儀器簡(jiǎn)介：
激光閃射法（LFA）是一種快速靈活的測(cè)量方法，近年來發(fā)展十分迅速，不僅能地直接測(cè)量熱擴(kuò)散系數(shù)，也可通過比熱的測(cè)量或輸入進(jìn)一步計(jì)算得到導(dǎo)熱系數(shù)。耐馳公司提供的LFA 可以覆蓋各類測(cè)試材料與極為寬廣的溫度范圍。其遵從的標(biāo)準(zhǔn)包括：ASTM E 1461, DIN EN 821, DIN 30905。
技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍 | -100°C ... 500°C |
升溫速率 | zui高 50 K/min |
冷卻系統(tǒng) | - CC200F3（液氮制冷）：-100°C ... 500°C；軟件控制 - CC200F3（液氮制冷）：-100°C ... 500°C，選配液氮自動(dòng)填充，軟件控制，液位監(jiān)控 |
熱擴(kuò)散系數(shù) | 0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s |
熱導(dǎo)率 | 0.1 W/(m·K) ... 2000 W/(m·K) |
準(zhǔn)確度 | 熱擴(kuò)散系數(shù)：+/- 3% 比熱：+/- 5%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
重復(fù)性 | 熱擴(kuò)散系數(shù)：+/- 2% 比熱：+/- 3% |
氙燈 | - 脈沖能量：zui高至10J/pulse（可調(diào)），軟件控制 - 脈沖寬度：20微秒μs至1200微秒，可調(diào) |
ZoomOptics | 選件，優(yōu)化檢測(cè)視野，無需遮光片。技術(shù) |
Pulse mapping | Pulse mapping技術(shù)（US 7038209，US20040079886，DE 10242741）。 修正脈沖能量，提高比熱計(jì)算精度。 |
紅外檢測(cè)器 | - InSb：室溫至500℃ - MCT (Hg-Cd-Te): -100°C ... 500°C 兩種檢測(cè)器都裝有0.5L杜瓦瓶，額定工作時(shí)間24小時(shí) |
氣氛 | 惰性，氧化，靜態(tài)和動(dòng)態(tài) |
數(shù)據(jù)采集 | - 頻率zui大至2MHz - 采樣時(shí)長(zhǎng)（10倍的半升溫時(shí)間）zui短可達(dá)為1ms，有利于高導(dǎo)熱材料或薄膜材料的測(cè)試 （如鋁，銅箔，薄膜等） - 采樣時(shí)長(zhǎng)（10倍的半升溫時(shí)間）zui長(zhǎng)可達(dá)120s，有利于低導(dǎo)熱或較厚樣品的測(cè)試 （如聚合物，耐火材料等） |
氣體控制 | 配備氣體開關(guān)，可選配減少壓力和氣體循環(huán)的MFC系統(tǒng) |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | 4個(gè)樣品支架位，可放置多達(dá)16個(gè)圓形或方形樣品槽（根據(jù)樣品尺寸、形狀不同） |
特殊樣品支架 | 提供特殊的樣品支架，適合不同的特殊應(yīng)用，如熔融聚合物和低粘度液體，樹脂固化過程， 漿料，粉末，纖維，水平方向或加壓下的測(cè)試等 |
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